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新专利!解决抛光金属非接触式温度测量难题

来源:本文由仪器仪表商情网原创 更新时间:2017-07-12 浏览量:1798

作者:德国KELLER

业界都知道红外测温计的使用过程中,一个难以处理的问题是:一旦温度低于可200°C,其产生的热辐射较低,一般波长为8-14微米的低温温度计,此时无法提供精准的测量数据。当前,市面上的测量高温计,通过携带硫化铅探测器的短波进行测量,其交变信号只能通过光斩波器形成。


但是,可移动式滤板的维护成本和故障率均较高,除此之外,由于移动物体的测量反应时间较长,因此此类设备有着很大的局限性。出于纯粹的实际原因,无法建立采用“金镜”进行测量的程序。因为其先决条件是,测量距离只有几毫米,镜面绝对无尘。


KELLER推出最新电子和光学模块CellaTemp PA 28,加载了一个光电扩展InGaAs传感器。为了接收更多的热辐射,特别开发了一个带有色彩校正透镜的高通量镜头。获得专利的信号处理方式能够通过一个较大的动态范围将微微安(Picoamper)量级的微小传感器电流进行无噪音放大。功能强大的处理器和复杂的环境温度线性化和补偿的数学算法,即使在最差条件下——最短的测量时间、测量对象的温度极低、辐射率极小,依然能够确保稳定的测量信号。


采用CellaTemp PA 28短波测量高温计,可以在以毫秒为单位的测量时间内稳定、可靠地测量辐射率仅有10%的、温度从75 °起的金属温度。该款设备还可用于快速测量譬如卷材涂布或感应加热装置中的移动物体。


光学系统的高分辨率和聚焦性能,使得远距离测量或对大于2毫米的微型对象的测量成为可能。因为该款设备的工作原理是基于恒光技术,因此不涉及到移动部件,因此使用多年后,仍然能够保证免维护、无损耗。

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